లిథియం బ్యాటరీ వైండింగ్ కణాల అంతర్గత లోపం మ్యాప్

లిథియం బ్యాటరీ వైండింగ్ కణాల అంతర్గత లోపం మ్యాప్

లిథియం-అయాన్ బ్యాటరీల తయారీ ప్రక్రియలో వైండింగ్ అనేది ఒక కీలకమైన ప్రక్రియ, ఇది పాజిటివ్ మరియు నెగటివ్ ఎలక్ట్రోడ్ ప్లేట్‌లు మరియు సెపరేటర్‌లను ఒకచోట చేర్చుతుంది. లోపభూయిష్ట ఉత్పత్తులు సంభవించినట్లయితే, సానుకూల మరియు ప్రతికూల ఎలక్ట్రోడ్ ప్లేట్లు మరియు విభజనలతో సహా మొత్తం కాయిల్ కోర్ వృధా అవుతుంది. దిగుబడి రేటు బ్యాటరీ యొక్క తయారీ వ్యయంపై గణనీయమైన ప్రభావాన్ని చూపుతుంది మరియు బ్యాటరీ పనితీరు మరియు భద్రతపై కూడా ప్రభావం చూపుతుంది.

సాధారణంగా, కాయిల్ కోర్ యొక్క సాధారణ అంతర్గత లోపం మ్యాప్‌లు క్రింది చిత్రంలో చూపబడతాయి మరియు ప్రతి మ్యాప్‌లో పాజిటివ్ ఎలక్ట్రోడ్ ప్లేట్, డయాఫ్రాగమ్ మరియు నెగటివ్ ఎలక్ట్రోడ్ ప్లేట్ ఉంటాయి.

మూర్తి 1 కాయిల్ కోర్ యొక్క అంతర్గత లోపం మ్యాప్

వాటిలో, మొదటి వరుస (a) అంతర్గత లోపాలు లేని సాధారణ నమూనా.

రెండవ వరుస (బి)లోని మూడవ ఫోటో ఎలక్ట్రోడ్ ప్లేట్ యొక్క బెండింగ్ వైకల్యాన్ని చూపుతుంది, వైండింగ్ ప్రక్రియలో ఉద్రిక్తత బాగా నియంత్రించబడకపోవడం మరియు ఎలక్ట్రోడ్ ప్లేట్ వంగి ఉండటం వల్ల కావచ్చు. ఈ లోపం వల్ల బ్యాటరీ ఎలక్ట్రోడ్‌లో ఎక్కువ సంఖ్యలో ముడతలు ఏర్పడవచ్చు మరియు ఛార్జింగ్ మరియు డిశ్చార్జింగ్ సమయంలో సంకోచం, సామర్థ్యం వినియోగాన్ని పరిమితం చేయడం మరియు లిథియం అవపాతం వంటి సమస్యలకు దారితీయవచ్చు.

మూడవ వరుస (సి)లోని లోపం డయాఫ్రాగమ్‌పై లోహపు విదేశీ వస్తువుల ఉనికి, ఇది ఎలక్ట్రోడ్ రోలింగ్, కటింగ్ మరియు ఇతర ప్రక్రియల వంటి ఎలక్ట్రోడ్ తయారీ లేదా రవాణా ప్రక్రియల సమయంలో ప్రవేశపెట్టబడి ఉండవచ్చు. వైండింగ్ ప్రక్రియ పోల్ ముక్కలను కత్తిరించడం ద్వారా రేకు స్క్రాప్‌లు ఉత్పన్నమయ్యే అవకాశం కూడా ఉంది. మెటల్ విదేశీ వస్తువులు బ్యాటరీ లోపల మైక్రో షార్ట్ సర్క్యూట్‌లకు కారణమవుతాయి, తీవ్రమైన స్వీయ ఉత్సర్గకు కారణమవుతాయి మరియు భద్రతా ప్రమాదాలను కలిగిస్తాయి. సాధారణ గుర్తింపు పద్ధతులలో ప్రధానంగా బ్యాటరీ కోర్ ఇన్సులేషన్ యొక్క వోల్టేజ్ రెసిస్టెన్స్ టెస్టింగ్, అధిక-ఉష్ణోగ్రత వృద్ధాప్య పర్యవేక్షణ మరియు అర్హత లేని ఉత్పత్తుల యొక్క స్వీయ ఉత్సర్గ k-విలువ తీర్పు ఉన్నాయి.

నాల్గవ వరుస (d)తో ఉన్న ప్రధాన సమస్య సానుకూల మరియు ప్రతికూల ఉపరితలాల యొక్క రెండు వేర్వేరు మందంతో సహా అసమాన పూత మరియు ఒక వైపు పూత లేదు. ఈ లోపం ప్రధానంగా పూత ప్రక్రియ లేదా ఎలక్ట్రోడ్ తయారీ ప్రక్రియలో పూత నిర్లిప్తత వలన సంభవిస్తుంది. సాధారణంగా, పోల్ ప్లేట్ రోలింగ్ మరియు కట్టింగ్ ప్రక్రియల కోసం CCD డిటెక్షన్ ఏర్పాటు చేయబడుతుంది మరియు వైండింగ్ ప్రక్రియలో లోపభూయిష్ట ఉత్పత్తులను తొలగించడానికి లోపభూయిష్ట పోల్ ప్లేట్లు గుర్తించబడతాయి. అయినప్పటికీ, లోపభూయిష్ట ఉత్పత్తుల యొక్క 100% తొలగింపుకు ఎటువంటి హామీ లేదు. ఈ పరిస్థితి ఏర్పడితే, బ్యాటరీ సామర్థ్యం పోతుంది మరియు సానుకూల మరియు ప్రతికూల ఎలక్ట్రోడ్ సామర్థ్యం మధ్య అసమతుల్యత ఉంది, ఇది లిథియం అవపాతం మరియు ఇతర సమస్యలకు దారితీస్తుంది.

ఐదవ వరుస (ఇ)లోని లోపం లోపల దుమ్ము వంటి లోహరహిత విదేశీ వస్తువుల ఉనికి. ఈ పరిస్థితి మెటల్ విదేశీ వస్తువుల వలె హానికరం కానప్పటికీ, ఇది బ్యాటరీ పనితీరును కూడా ప్రభావితం చేస్తుంది. పరిమాణం సాపేక్షంగా పెద్దగా ఉన్నప్పుడు, అది డయాఫ్రాగమ్ క్రాకింగ్ మరియు సానుకూల మరియు ప్రతికూల ధ్రువాల మధ్య మైక్రో షార్ట్ సర్క్యూట్‌లకు కూడా దారితీయవచ్చు.

పై గ్రాఫ్‌ను పొందే పద్ధతి క్రింది విధంగా ఉంది: మొత్తం కాయిల్ కోర్‌ను A మరియు B అంటుకునే ఎపాక్సీ రెసిన్‌లో పొందుపరచండి మరియు కాయిల్ కోర్ యొక్క అంతర్గత నిర్మాణ లక్షణాలను నిర్వహించడానికి పటిష్టం చేయండి. క్రాస్-సెక్షన్‌ను కత్తిరించండి, ఇసుక అట్టతో గ్రైండ్ చేయండి, నమూనా చేయడానికి దానిని పాలిష్ చేయండి మరియు స్కానింగ్ ఎలక్ట్రాన్ మైక్రోస్కోపీని ఉపయోగించి దాన్ని గమనించండి. పెద్ద సంఖ్యలో ఫోటోలను పొందింది మరియు ఈ లోప నమూనాలను గుర్తించింది.

మూర్తి 2 కోర్ మైక్రోస్ట్రక్చర్ యొక్క పరిశీలన ప్రక్రియ


అదనంగా, మూర్తి 3లో చూపిన విధంగా గాయం సెల్ యొక్క మూలల్లో పోల్ విచ్ఛిన్నం ఉండవచ్చు. పోల్ ముక్క చాలా పెళుసుగా ఉంటుంది మరియు పెద్ద మందం కలిగి ఉంటుంది, ఇది ముఖ్యంగా పగుళ్లకు గురవుతుంది.

పైన పేర్కొన్నది కాయిల్ కోర్ యొక్క అంతర్గత లోపం మ్యాప్.